
Forradalmi grafénmintázási eljárás
Dél-Koreában a Chungnam Nemzeti Egyetemen Wonsuk Jung professzor és kutatótársai egy új eljárást fejlesztettek ki, amellyel a teljes felületű, egyatomnyi vastagságú grafénrétegeket 5 mikrométernél is finomabb mintázattal lehet kialakítani. Az OFP-G (egylépéses, fotóreziszt-mentes grafénmintázás) módszerhez nincs szükség fotóreziszt anyagokra vagy kémiai maratásra, amelyek gyakran rontják a grafén elektromos tulajdonságait.
A hagyományos fotolitográfiás eljárások gyakran mikroméretű sérüléseket és leválásokat okoznak, míg az új módszerrel kis ellenállású, nagy precizitású minták jönnek létre károsodás és szennyeződés nélkül.
Az OFP-G folyamat működése
A grafén a szénatomok egyetlen, méhsejt-rácsba rendezett rétege, különösen értékes az átlátszósága, elektromos vezetőképessége és hajlékonysága miatt. Az OFP-G módszerrel nem eltávolítják a grafént, hanem egyes kémiai kötéseit módosítják.
Az eljárás során a monorétegű grafént szilícium-dioxid hordozóra viszik fel, majd egy korábban belemart mintázattal ellátott üveglemezhez nyomják. A vákuumban, 380 °C-on végzett művelet során az üveg vezető szilárd elektrolittá válik. Az 1 000 V-os feszültség hatására az üvegben mozgó alkáli ionok oxigéndús régiókat hoznak létre a grafén felszínén, ahol a szén–szén kötések helyére szén–oxigén kötések képződnek. Így precíz, maszkszerű minta keletkezik, míg a környező grafén sértetlen marad.
Kiemelkedő eredmények és jövőbeli lehetőségek
Az új módszerrel akár 5 mikrométer széles graféncsatornák is készíthetők, káros melléktermékek nélkül. A magas hőmérséklet miatt az előző feldolgozási lépéseknél esetlegesen visszamaradt szennyeződések is eltűnnek. A felület tisztaságát Raman-spektroszkópia és röntgen-fotoelektron-spektroszkópia is igazolta, és a mintázott területek szerkezete is ép maradt.
Az elektromos mérések szerint az 5 és 20 mikrométer széles csíkok ellenállása rendkívül kicsi (11,5, illetve 9,4 ohm). A hagyományos, fotolitográfiás módszerekkel készült minták gyakorlatilag vezetőképtelenek voltak, mert a gyártás során károk és szennyeződések keletkeztek.
Az új módszer különösen alkalmas bioszenzorok, idegi beültethető eszközök vagy nanoszerkezetű elektronikai eszközök gyártásához, ahol kulcsfontosságú a felület tisztasága. Az eljárás hosszú távon felgyorsíthatja a grafén áttörését a hajlékony, átlátszó egészségügyi, energetikai és okoseszköz-technológiákban.
