A gyártás legnagyobb ellensége
A vezető szakértők szerint a mai folyamatellenőrző rendszerek tehetetlenek ezekkel a véletlenszerű hibákkal szemben. A különbség, amit a kutatásban már el tudnak érni, de ipari méretekben még nem gyártható megbízhatóan, a sztochasztikus rés – ezt főként az anyagok, molekulák és a gyártás során használt fényforrások természetes véletlenszerűsége okozza. Kutatólaborban már sikerült 12 nanométeres mintázatokat létrehozni, de a sorozatgyártás során egyre több ilyen véletlenszerű hiba rontja a hozamot, a teljesítményt és a megbízhatóságot.
Az MI lehet a kulcs
Az extrém ultraibolya (EUV) litográfia technológiai ugrásával még kisebb mintázatok váltak elérhetővé, de ezzel együtt a véletlenszerű hibák is megszaporodtak. Ezeket már nem lehet szigorúbb gyártásellenőrzéssel kiküszöbölni – statisztikai tervezési és mérési technikák alkalmazása, például mesterséges intelligencia által vezérelt eszközök jelenthetik a megoldást. Az iparág minden szereplőjét érinti ez a probléma, így a pontos sztochasztikus mérés lesz a következő nagy áttörés kulcsa.
